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Développement instrumental sur le TEM Jeol NeoARM pour la cartographie EELS et de champs de déformations rapide et à faible dose

Défis technologiques Nano-caractérisation avancée Physique de l’état condensé, chimie et nanosciences Physique du solide, surfaces et interfaces

Résumé du sujet

L'objectif principal est de se concentrer sur le développement instrumental pour le NeoARM 200F. En collaboration étroite avec un ingénieur familiarisé avec l'automatisation pour le TEM, l'équipe aura pour mission d'automatiser l'alignement, l'interface et le traitement du flux de données pour le filtre et divers détecteurs afin de permettre des applications de pointe. La première partie du projet se concentrera sur la cartographie rapide, précise et à faible dose des déformations à l'échelle nanométrique. Pour y parvenir, nous utilisons Nanomegas ASTAR ainsi que d'autres générateurs de balayage universels pour acquérir des données de diffraction électronique par précession de balayage (SPED). Le CEA possède une expertise bien établie dans la cartographie des contraintes en TEM [e.g., D. Cooper et al., Micron 80 (2016) 145]. Actuellement, il existe un fort désir de repousser les limites de cette technique pour générer des résultats en temps réel de haute qualité. Pour cet aspect de mesure de déformations, nous évaluerons les avantages fournis par des composants tels que le détecteur TimePix3 et le filtrage en énergie des diagrammes de diffraction. Des algorithmes commerciaux et internes pour le traitement des diagrammes de diffraction seront développés et comparés. La deuxième partie du projet se concentrera sur le détecteur TimePix3 pour la spectroscopie de perte d'énergie des électrons (EELS) réalisée avec le fitre CEFID de CEOS. En mode d'acquisition basé sur l'image, les performances de STEM-EELS en utilisant le détecteur TimePix3 seront évaluées et mises en évidence (par exemple, tomographie simultanée EELS/EDX). De nouvelles stratégies pour améliorer le rapport signal/bruit de l'EELS pour les caméras électroniques directes seront également explorées. L'exploitation du TimePix3 en mode basé sur les événements, y compris la coïncidence EELS/EDX et l'imagerie à faible dose et grande vitesse, fera également partie du projet le cas échéant.

Laboratoire

Département des Plateformes Technologiques (LETI)
Service de Métrologie et de Caractérisation Physique
Laboratoire Microscopie Mesures et Défectivité
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