Cette thèse vise à développer une technique d’analyse permettant d'accéder à des informations à la fois sur la structure atomique et la polarisation dans les matériaux ferroélectroniques bidimensionnels van der Waals (2D vdW). Récemment, des systèmes ferroélectriques 2D vdW ont été découverts avec de nouveaux mécanismes de polarisation, induits par des configurations structurelles atomiques subtilement réglées. Afin de comprendre les mécanismes à l’origine de la polarisation spontanée dans des couches 2D atomiquement fines, la capacité d’étudier la position atomique et les propriétés associés est essentielle. Grâce à l’amélioration de l’efficacité des détecteurs et aux nouvelles analyses numériques, la microscopie électronique en transmission (TEM) devient un outil puissant pour étudier les matériaux 2D. Les correcteurs d'aberrations permettent de travailler à basse tension, en évitant de les endommager, et donnent directement la structure atomique, de plus la composition chimique au niveau atomique peut être obtenue avec EELS. Plus récemment, 4D-STEM être développé pour déterminer à l'échelle d’angström les champs électriques locaux et les charges générées dans des couches 2D. Le projet de thèse utilisera tous ces nouveaux développements récemment réalisés dans MEM-LEMMA pour explorer la faisabilité d'accéder à des informations sur la polarisation locale dans des matériaux ferroélectriques 2D vdW innovants développés par des collaborateurs ; SPINTEC (CEA) et NCSR (Grèce).