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D’un jour à plusieurs semaines, nos formations permettent une montée en compétence dans votre emploi ou accompagnent vers le retour à l’emploi. 
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Caractérisation des couches minces par rayons X

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Nouvelle formation !

En bref

Venez découvrir et acquérir une première expérience pratique sur la caractérisation par rayons X !

A qui s’adresse cette formation ?

Ingénieurs, chercheurs ou techniciens supérieurs de laboratoires publics ou industriels travaillant dans le domaine des matériaux.
Public débutant ou ayant une faible expérience dans le domaine de la caractérisation des couches minces par rayons X.

Compétences visées

  • Connaître les principes physiques associés aux techniques de diffraction des rayons X et de réflectométrie.
  • Appréhender les spécificités des mesures sur films minces en diffraction des rayons X en incidence rasante coplanaire (films minces polycristallins) et en réflectométrie X.
  • Acquérir une première expérience pratique permettant de choisir les conditions opératoires les mieux adaptées au matériau étudié.
  • Savoir traiter et interpréter les données expérimentales.

Les travaux pratiques sont largement développés dans cette formation :

  • Procédures d’alignement,
  • Choix des conditions opératoires,
  • Traitement des données et interprétation.

Diffraction X en incidence rasante coplanaire

  • Rappels de cristallographie et de radiocristallographie.
  • Rappels sur l'analyse de phase.
  • Diffraction des rayons X en incidence rasante.
  • Montage faisceau parallèle / Montage Bragg-Brentano
  • Spécificités de la diffraction des rayons X en incidence rasante : profondeur de pénétration, analyse des contraintes mécaniques et impact sur l'analyse de structure.
  • Le cas de la diffraction x en incidence rasante non coplanaire - dite "in plane" sera abordée succinctement.

Réflectométrie X

  • Principe et intérêts de la réflectométrie X aux petits angles.
  • Diffusion spéculaire : les relations fondamentales de la réflectométrie X en mode spéculaire.
  • Mesures de densité, d'épaisseur et de rugosité : applications substrat/films minces/multicouches.
  • Choix des configurations expérimentales.
  • Une introduction à la diffusion des rayons X hors spéculaire sera proposée.

Connaissances de base sur la structure de la matière conseillées. Même si les principes de base sont rappelés lors du stage, une connaissance préalable, voire une pratique de la diffraction des rayons X sur poudre sont un plus pour les bienfaits de la formation.

En cas de format distanciel, les pré-requis techniques sont :

  • Un ordinateur, une tablette tactile ou dispositif équivalent
  • Un micro, web-cam
  • Un accès au réseau internet

Auto-évaluation

Méthodes et outils pédagogiques

Partenaires

Contact(s)

Responsable pédagogique :

Pascal REVIRAND
pascal.revirand@cea.fr
+33 4 38 78 41 38

Sessions de formation

Aucune session inter-entreprise n'est programmée pour le moment, si cette formation vous intéresse, merci de nous contacter.

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