Les mémoires non-volatiles de type flash sont un élément clé pour le développement des applications haute-température dans l’aérospatial, l’industrie automobile et l’industrie du forage. Malheureusement, le temps de rétention des mémoires flash est fortement dégradé par la haute-température et peut être considérablement diminué même à des températures plus modérées, particulièrement dans le cas où il faut stocker plusieurs bits par cellule. Cet effet peut être estompé à travers un rafraîchissement périodique des données. Le problème est que, en présence des variations de température dues à un changement des conditions environnementales et/ou de charge de travail, une fréquence de rafraîchissement fixe doit être adaptée au pire cas et risque d’entraîner des pertes en termes de performance et endurance.

Le premier objectif de ce projet est d’implémenter une méthode de rafraîchissement basée sur l’utilisation d’un compteur permettant de : (a) suivre l’évolution de l’impact de la température sur le temps de rétention des mémoires flash, (b) générer des alertes sur l’imminence d’une perte de données et (c) fournir des timestamps.

Le deuxième objectif du projet est de déterminer la loi qui gouverne l’évolution avec le temps des fautes de rétention dans une mémoire flash. Le but est l’implémentation d’une technique capable de déterminer le temps de rétention restant de chaque page mémoire en fonction de l’âge de rétention, i.e. le temps écoulé depuis le stockage des données, et le nombre des erreurs de rétention et non-rétention.

Le travail du post-doctorant inclura la publication des résultats scientifiques dans des conférences internationales et journaux de haut niveau.