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Nano-caractérisation pour l'étude des matériaux et structures

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Nouvelle formation !
Crédit : L.Godart/CEA

En bref

Venez découvrir la complémentarité des différentes techniques de caractérisation !

Vous serez ensuite capable de mettre en place la méthodologie la plus adaptée à vos problématiques.

A qui s’adresse cette formation ?

Ingénieurs ou techniciens supérieurs :
• travaillant dans le domaine des micro et nanotechnologies au sein de laboratoires publics ou industriels,
• confrontés à la résolution de problèmes liés à la maîtrise à l'échelle nanométrique des propriétés des matériaux lors de leur élaboration et/ou leur intégration dans des dispositifs.

Compétences visées

• Utiliser les principales méthodes de caractérisation des matériaux adaptées et optimisées pour l'étude des surfaces, des interfaces, des nanomatériaux et des nanostructures.
• Analyser les informations accessibles par les différentes techniques physiques.
• Décrire les potentialités et les limitations des diverses techniques.

Chaque technique fait l’objet d’une présentation détaillée illustrée par une démonstration sur la PFNC* (présentation et études de cas – également sur propositions participants – menées en petits groupes).

* Plateforme de nano-caractérisation (CEA/Grenoble – Minatec)

Après un rappel des techniques de base utilisées pour la caractérisation des matériaux d'un point de vue physico-chimique, un éclairage particulier est donné pour le cas des surfaces, des interfaces, des nanomatériaux et des nanostructures. Les principes, les variantes instrumentales, les limites et complémentarités avec d'autres techniques sont développés.
Chaque technique fait l'objet d'une présentation détaillée – principes, mode de fonctionnement et domaines d'application – illustrée par une démonstration. Chaque séance de démonstration se compose de la présentation proprement dite de l'équipement et d'études de cas (sur proposition des stagiaires) qui seront menées en petits groupes.

Techniques étudiées :
- Spectroscopies Auger (AES) et de photoélectrons (UPS-XPS).
- Microscopies à force atomique (SPM).
- Diffraction des rayons X (DRX).
- Ellipsométrie spectroscopique (ES).
- Spectrophotométrie infrarouge (FTIR).
- Analyse par émission ionique secondaire (SIMS et APT).
- Analyse par diffusion d'ions  (RBS/MEIS & Co).
- Microscopie électronique à balayage (MEB).
- Microscopie électronique en transmission (MET).
- Préparation d'échantillons. 

Pas de pré-requis

En cas de format distanciel, les pré-requis techniques sont :

  • Un ordinateur, une tablette tactile ou dispositif équivalent
  • Un micro, web-cam
  • Un accès au réseau internet

Auto-évaluation

Méthodes et outils pédagogiques

Contact(s)

INSTN Grenoble

Contact Administratif :

Anne-Sophie BERTIN
anne-sophie.bertin@cea.fr
04 38 78 48 65

Contact Pédagogique :

Jean-Charles SOURIAU
jean-charles.souriau@cea.fr
+33 4 38789813

Sessions de formation

Groupe limité à 12 Personnes

Si vous êtes en situation de handicap, veuillez contacter le référent handicap, afin de vérifier les possibilités de mise en oeuvre de l'action de formation, à l'adresse suivante : instn-handicap@cea.fr

Lieu Session
Du 15 novembre 2023
Au 30 novembre 2023
INSTN Grenoble 2 760,00€ HT S'INSCRIRE

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