La conception des circuits intégrés nécessite, en fin de chaîne, des outils d'édition de circuit et d'analyse de défaillance. Parmi ces outils, le sondage de niveaux de potentiels électriques par utilisation d'un faisceau électronique disponible dans un MEB (Microscope Electronique à Balayage) permet de connaitre le signal électrique présent dans une zone du circuit, cette zone pouvant être un niveau de métal ou un transistor. Cette technique de sondage électronique a été très utilisée dans les années 90, puis partiellement abandonnée malgré quelques publications récurrentes sur cette technique. Les dernières années ont remis au gout du jour cette technique par utilisation de la face arrière du composant, le sondage se faisant via le substrat de silicium et l'accès aux zones actives du composant.
Ces outils de débogage et d'analyse de défaillance sont aussi des outils pour attaquer les circuits intégrés. Ce sujet de thèse s'inscrit dans le cadre de la cybersécurité matérielle et notamment des risques liés aux attaques dites invasives. Le doctorant mettra en œuvre cette technique de sondage par faisceau électronique sur des MEB commerciaux et dans des conditions d'utilisation propre à la cybersécurité. Il sera envisagé différentes techniques pour améliorer les signaux sondés, pour comprendre les risques et se prémunir de leur exploitation, notamment par l'utilisation et le détournement d'un MEB de table qui rendrait l'attaque "low-cost".