Qui sommes-nous ?
Espace utilisateur
Formation continue
Credit : L. Godart/CEA
D’un jour à plusieurs semaines, nos formations permettent une montée en compétence dans votre emploi ou accompagnent vers le retour à l’emploi. 
Conseil et accompagnement
Crédit : vgajic
Fort de plus de 60 ans d’expériences, l’INSTN accompagne les entreprises et organismes à différents stades de leurs projets de développement du capital humain.
Formation continue
Accueil   /   Formation   /   Formation continue   /   Apprentissage et pratique de la microscopie électronique à balayage

Apprentissage et pratique de la microscopie électronique à balayage

Caractérisation des matériaux

Matériaux

Caractérisation

Métallurgie

4.8
Recommandation: 100 %
Note moyenne de satisfaction des participants
Pourcentage de recommandation
© Bertrand REYNIER INSTN-CEA

En bref

Cette formation vous permettra de comprendre le fonctionnement et l'utilisation d'un microscope électronique à balayage (MEB). Vous  appréhenderez ainsi mieux les différents paramètres de réglages nécessaires à la réalisation  de micrographies nettes et précises, particulièrement à fort grandissement.

A qui s’adresse cette formation ?

Ingénieurs, techniciens supérieurs, doctorants, post-doctorants

Compétences visées

  • Expliquer les bases théoriques de la microscopie électronique
  • Décrire le principe de fonctionnement d'un microscope électronique à balayage (MEB)
  • Déterminer les conditions optimales d'observation selon l'échantillon et les informations recherchées
  • Interpréter les contrastes des images électroniques
  • Apprécier les limites d'utilisation de la technique
  • Environ  70% du temps est consacré aux travaux pratiques et exercices sur un microscope à balayage à pression variable (JEOL 6060 LV) ainsi qu'un complément sur un MEB/FEG (Canon à "effet de champ")  ZEISS.
  • Entraînement sur échantillons standards  mise en situation et quiz final.
  • 30 % consacré aux apports théoriques, explications et réponses aux questions

A noter : Les participants peuvent apporter leur propres échantillons.

  • Notions de bases théoriques des interactions électron/matière : émission d'électrons secondaires et d'électrons rétrodiffusés, rayons-X caractéristiques et électron Auger, technologie des détecteurs
  • Description et principe d'un MEB : constitution de la colonne électronique, canon à électrons, balayage de l'échantillon, formation de l'image et résolutions spatiales
  • Pratique du MEB :
    • Acquisition d'images en électrons secondaires et rétrodiffusés, traitement des images,
    • Interprétation des images : contrastes topographique et chimique,
    • Réglages du MEB : influence des paramètres (énergie des électrons, taille de sonde, profondeur de champ, distance de travail,  grandissement...) sur la résolution des images,
    • Réglages fins (Wobbler; Astigmatsime)
  • Introduction à la préparation d'échantillons (selon demande)
  • Tests réglages et manipulation du MEB, "quiz" sur échantillon tests

Ce stage s'adressant à des débutants ou pratiquants occasionnels de la technique, il n'y a pas de prérequis particuliers.  

Auto-évaluation des participants et réponses à un QCM

Méthodes et outils pédagogiques

Contact(s)

INSTN Saclay

Contact administratif :

Christine PIRON
instn-ues-sac-af@cea.fr

Contact pédagogique :

Bertrand REYNIER
bertrand.reynier@cea.fr
+33 1 69 08 49 75

Sessions de formation

Groupe limité à 4 Personnes*
*dépassement possible en cas de fortes demandes

Si vous êtes en situation de handicap, veuillez contacter le référent handicap, afin de vérifier les possibilités de mise en oeuvre de l'action de formation, à l'adresse suivante : instn-handicap@cea.fr

Lieu Session
Du 16 septembre 2025
Au 18 septembre 2025
INSTN Saclay 1 780,00€ HT S'INSCRIRE

Formations apparentées

Top envelopegraduation-hatlicensebookuserusersmap-markercalendar-fullbubblecrossmenuarrow-down