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Apprentissage de la microanalyse X par sélection d'énergie (EDS) associée à un MEB

Matériaux

Caractérisation

Métallurgie

4.1
Note moyenne de satisfaction des participants

En bref

Cette formation vous permettra d'acquérir les bases théoriques et pratiques de la microanalyse X fonctionnant en dispersion d’énergie (EDS-X).

Le spectromètre est installé  sur un MEB JEOL 6060 LV (canon à filament tungstène) à pression variable.

A qui s’adresse cette formation ?

Ingénieurs, techniciens supérieurs, doctorants, post-doctorants.

 

Compétences visées

• Expliquer les bases théoriques de la microanalyse X.
• Décrire le principe de fonctionnement de la technique.
• Déterminer les conditions optimales d'acquisition.
• Utiliser les possibilités de la microanalyse X.
• Apprécier les limites d'utilisation de la technique.

  • Environ 70% du temps est consacré aux travaux pratiques sur un MEB Jeol 6060 LV équipé d’un système Bruker Nano Xflash 4 ® et du logiciel Esprit 2.2®
  • Entraînement sur échantillons standards, mise en situation et quizz final.
  • A noter : Les participants pourront apporter leur propres échantillons.

- Rappels concernant la structure électronique des atomes, les désexcitations X et Auger, les dénominations des raies photoélectriques, les règles des transitions X.
- Bases des interactions électron/matière et photon/matière indispensables pour une bonne utilisation de la technique.
- Description de la chaîne d'analyse.
- Pratique de la microanalyse X : analyse qualitative (interprétation et dépouillement de spectres obtenus à partir de nombreux échantillons), principe de l'analyse quantitative, acquisitions de cartographies qualitatives.
- Influence des paramètres du MEB (énergie des électrons, courant de faisceau, distance de travail...) et de la préparation des échantillons.
- Conférence : évolutions de la technique, applications particulières (analyses de couches minces, acquisition de cartographie quantitative ou fichier "image-spectre"…).

Pratique de la microscopie électronique à balayage et notions de physique atomique.

Le stage "Apprentissage et pratique de la Microscopie à Balayage" est conseillé

Méthodes et outils pédagogiques

Contact(s)

INSTN Saclay

Contact Administratif :

Christine PIRON
instn-ues-sac-af@cea.fr

Contact Pédagogique :

Bertrand REYNIER
bertrand.reynier@cea.fr
+33 1 69 08 48 75

Sessions de formation

Groupe limité à 5 Personnes

Si vous êtes en situation de handicap, veuillez contacter le référent handicap, afin de vérifier les possibilités de mise en oeuvre de l'action de formation, à l'adresse suivante : instn-handicap@cea.fr

Du 21 mars 2023
Au 23 mars 2023
INSTN Saclay 1 700,00€ HT S'INSCRIRE
Du 10 octobre 2023
Au 12 octobre 2023
INSTN Saclay 1 700,00€ HT S'INSCRIRE

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