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Apprentissage de la microanalyse X par sélection d'énergie (EDS) associée à un MEB

Matériaux

Caractérisation

Métallurgie

4.7
Recommandation: 100 %
Note moyenne de satisfaction des participants
Pourcentage de recommandation
© Bertrand REYNIER INSTN/UES

En bref

Cette formation vous permettra d'acquérir les bases théoriques et pratiques de la microanalyse X en mode dispersion d’énergie (dite EDS-X). Une large part du temps est consacrée aux manipulations sur le spectromètre.

A qui s’adresse cette formation ?

Ingénieurs, techniciens supérieurs, doctorants, post-doctorants

Compétences visées

  • Expliquer les bases théoriques de la microanalyse X
  • Décrire le principe de fonctionnement de la technique
  • Déterminer les conditions optimales d'acquisition
  • Utiliser les possibilités de la microanalyse X
  • Apprécier les limites d'utilisation de la technique
  • Environ 70% du temps est consacré aux travaux pratiques sur un MEB Jeol 6060 LV équipé d’un système Bruker Nano Xflash 4 ® et du logiciel Esprit 2.2®
  • Entraînement sur échantillons standards, mise en situation et quizz final.
  • A noter : Les participants pourront apporter leur propres échantillons.
  • Rappels concernant la structure électronique des atomes, les désexcitations X et Auger, les dénominations des raies photoélectriques, les règles des transitions X
  • Bases des interactions électron/matière et photon/matière indispensables pour une bonne utilisation de la technique
  • Description de la chaîne d'analyse
  • Pratique de la microanalyse X : analyse qualitative (interprétation et dépouillement de spectres obtenus à partir de nombreux échantillons), principe de l'analyse quantitative, acquisitions de cartographies qualitatives
  • Influence des paramètres du MEB (énergie des électrons, courant de faisceau, distance de travail...) et de la préparation des échantillons
  • Conférence : évolutions de la technique, applications particulières (analyses de couches minces, acquisition de cartographie quantitative ou fichier "image-spectre"…)

Pratique de la microscopie électronique à balayage et notions de physique atomique
(Le stage "Apprentissage et pratique de la Microscopie à Balayage" est conseillé)

Méthodes et outils pédagogiques

Contact(s)

INSTN Saclay

Contact administratif :

Christine PIRON
instn-ues-sac-af@cea.fr

Contact pédagogique :

Bertrand REYNIER
bertrand.reynier@cea.fr
+33 1 69 08 49 75

Sessions de formation

Groupe limité à 4 Personnes

Si vous êtes en situation de handicap, veuillez contacter le référent handicap, afin de vérifier les possibilités de mise en oeuvre de l'action de formation, à l'adresse suivante : instn-handicap@cea.fr

Du 08 octobre 2024
Au 10 octobre 2024
INSTN Saclay 1 740,00€ HT S'INSCRIRE
Du 11 février 2025
Au 13 février 2025
INSTN Saclay 1 780,00€ HT S'INSCRIRE
Du 30 septembre 2025
Au 02 octobre 2025
INSTN Saclay 1 780,00€ HT S'INSCRIRE

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