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Apprentissage et pratique de la microscopie électronique à balayage

Matériaux

Caractérisation

Métallurgie

4.6
Note moyenne de satisfaction des participants

En bref

Cette formation vous permettra de comprendre le fonctionnement et l'utilisation d'un microscope électronique à balayage (MEB). Vous  appréhenderez ainsi mieux les différents paramètres de réglages nécessaires à la réalisation  de micrographies nettes et précises, particulièrement à fort grandissement.

A qui s’adresse cette formation ?

Ingénieurs, techniciens supérieurs, doctorants, post-doctorants.

 

 

Compétences visées

• Expliquer les bases théoriques de la microscopie électronique.
• Décrire le principe de fonctionnement d'un microscope électronique à balayage (MEB).
• Déterminer les conditions optimales d'observation selon l'échantillon et les informations recherchées.
• Interpréter les contrastes des images électroniques.
• Apprécier les limites d'utilisation de la technique.

  • ~ 70% du temps est consacré aux travaux pratiques et exercices sur un microscope à balayage à pression variable (JEOL 6060 LV) ainsi qu'un complément sur un MEB/FEG (Canon à "effet de champ")  ZEISS.
  • Entraînement sur échantillons standards et non conducteurs,  quiz final.

A noter : Les participants peuvent apporter leur propres échantillons.

- Notions de bases théoriques des interactions électron/matière : émission d'électrons secondaires et d'électrons rétrodiffusés, rayons-X caractéristiques et électron Auger.
- Description et principe d'un MEB : constitution de la colonne électronique, canon à électrons, balayage de l'échantillon, formation de l'image et résolutions spatiales.

- Pratique du MEB :

  • Acquisition d'images en électrons secondaires et rétrodiffusés, traitement des images,I
  • Interprétation des images : contrastes topographique et chimique,
  • Réglages du MEB : influence des paramètres (énergie des électrons, taille de sonde, profondeur de champ, distance de travail,  grandissement) sur la résolution des images,
  • Réglages fins : correction de l'éventuel astigmatisme du faisceau, réglage du « wobble ».

 

- Introduction à la préparation d'échantillons (selon demande).
- Tests réglages et manipulation du MEB, "quizz" sur échantillon tests.

Méthodes et outils pédagogiques

Contact(s)

INSTN Saclay

Contact Administratif :

Christine PIRON
instn-ues-sac-af@cea.fr

Contact Pédagogique :

Bertrand REYNIER
bertrand.reynier@cea.fr
+33 1 69 08 48 75

Sessions de formation

Groupe limité à 5 Personnes

Si vous êtes en situation de handicap, veuillez contacter le référent handicap, afin de vérifier les possibilités de mise en oeuvre de l'action de formation, à l'adresse suivante : instn-handicap@cea.fr

Lieu Session
Du 14 février 2023
Au 16 février 2023
INSTN Saclay 1 700,00€ HT S'INSCRIRE
Du 19 septembre 2023
Au 21 septembre 2023
INSTN Saclay 1 700,00€ HT S'INSCRIRE

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