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Apprentissage et pratique de la microscopie électronique à balayage

Matériaux

Caractérisation

Métallurgie

4.8
Recommandation: 100 %
Note moyenne de satisfaction des participants
Pourcentage de recommandation
© Bertrand REYNIER INSTN-CEA

En bref

Cette formation vous permettra de comprendre le fonctionnement et l'utilisation d'un microscope électronique à balayage (MEB). Vous  appréhenderez ainsi mieux les différents paramètres de réglages nécessaires à la réalisation  de micrographies nettes et précises, particulièrement à fort grandissement.

A qui s’adresse cette formation ?

Ingénieurs, techniciens supérieurs, doctorants, post-doctorants

Compétences visées

  • Expliquer les bases théoriques de la microscopie électronique
  • Décrire le principe de fonctionnement d'un microscope électronique à balayage (MEB)
  • Déterminer les conditions optimales d'observation selon l'échantillon et les informations recherchées
  • Interpréter les contrastes des images électroniques
  • Apprécier les limites d'utilisation de la technique
  • Environ  70% du temps est consacré aux travaux pratiques et exercices sur un microscope à balayage à pression variable (JEOL 6060 LV) ainsi qu'un complément sur un MEB/FEG (Canon à "effet de champ")  ZEISS.
  • Entraînement sur échantillons standards  mise en situation et quiz final.
  • 30 % consacré aux apports théoriques, explications et réponses aux questions

A noter : Les participants peuvent apporter leur propres échantillons.

  • Notions de bases théoriques des interactions électron/matière : émission d'électrons secondaires et d'électrons rétrodiffusés, rayons-X caractéristiques et électron Auger, technologie des détecteurs
  • Description et principe d'un MEB : constitution de la colonne électronique, canon à électrons, balayage de l'échantillon, formation de l'image et résolutions spatiales
  • Pratique du MEB :
    • Acquisition d'images en électrons secondaires et rétrodiffusés, traitement des images,
    • Interprétation des images : contrastes topographique et chimique,
    • Réglages du MEB : influence des paramètres (énergie des électrons, taille de sonde, profondeur de champ, distance de travail,  grandissement...) sur la résolution des images,
    • Réglages fins (Wobbler; Astigmatsime)
  • Introduction à la préparation d'échantillons (selon demande)
  • Tests réglages et manipulation du MEB, "quiz" sur échantillon tests

Ce stage s'adressant à des débutants ou pratiquants occasionnels de la technique, il n'y a pas de prérequis particuliers.  

Auto-évaluation des participants et réponses à un QCM

Méthodes et outils pédagogiques

Contact(s)

INSTN Saclay

Contact administratif :

Christine PIRON
instn-ues-sac-af@cea.fr

Contact pédagogique :

Bertrand REYNIER
bertrand.reynier@cea.fr
+33 1 69 08 49 75

Sessions de formation

Groupe limité à 4 Personnes

Si vous êtes en situation de handicap, veuillez contacter le référent handicap, afin de vérifier les possibilités de mise en oeuvre de l'action de formation, à l'adresse suivante : instn-handicap@cea.fr

Du 17 septembre 2024
Au 19 septembre 2024
INSTN Saclay 1 740,00€ HT S'INSCRIRE
Du 21 janvier 2025
Au 23 janvier 2025
INSTN Saclay 1 780,00€ HT S'INSCRIRE
Du 16 septembre 2025
Au 18 septembre 2025
INSTN Saclay 1 780,00€ HT S'INSCRIRE

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