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Apprentissage de la microanalyse X par sélection d'énergie (EDS) associée à un MEB

Caractérisation des matériaux

Matériaux

Caractérisation

Métallurgie

4.7
Recommandation: 100 %
Note moyenne de satisfaction des participants
Pourcentage de recommandation
© Bertrand REYNIER INSTN/UES

En bref

Cette formation vous permettra d'acquérir les bases théoriques et pratiques de la microanalyse X en mode dispersion d’énergie (dite EDS-X). Une large part du temps est consacrée aux manipulations sur le spectromètre.

A qui s’adresse cette formation ?

Ingénieurs, techniciens supérieurs, doctorants, post-doctorants

Compétences visées

  • Expliquer les bases théoriques de la microanalyse X
  • Décrire le principe de fonctionnement de la technique
  • Déterminer les conditions optimales d'acquisition
  • Utiliser les possibilités de la microanalyse X
  • Apprécier les limites d'utilisation de la technique
  • Environ 70% du temps est consacré aux travaux pratiques sur un MEB Jeol 6060 LV équipé d’un système Bruker Nano Xflash 4 ® et du logiciel Esprit 2.2®
  • Entraînement sur échantillons standards, mise en situation et quizz final.
  • A noter : Les participants pourront apporter leur propres échantillons.
  • Rappels concernant la structure électronique des atomes, les désexcitations X et Auger, les dénominations des raies photoélectriques, les règles des transitions X
  • Bases des interactions électron/matière et photon/matière indispensables pour une bonne utilisation de la technique
  • Description de la chaîne d'analyse
  • Pratique de la microanalyse X : analyse qualitative (interprétation et dépouillement de spectres obtenus à partir de nombreux échantillons), principe de l'analyse quantitative, acquisitions de cartographies qualitatives
  • Influence des paramètres du MEB (énergie des électrons, courant de faisceau, distance de travail...) et de la préparation des échantillons
  • Conférence : évolutions de la technique, applications particulières (analyses de couches minces, acquisition de cartographie quantitative ou fichier "image-spectre"…)

Pratique de la microscopie électronique à balayage et notions de physique atomique
(Le stage "Apprentissage et pratique de la Microscopie à Balayage" est conseillé)

Méthodes et outils pédagogiques

Contact(s)

INSTN Saclay

Contact administratif :

Christine PIRON
instn-ues-sac-af@cea.fr

Contact pédagogique :

Bertrand REYNIER
bertrand.reynier@cea.fr
+33 1 69 08 49 75

Sessions de formation

Groupe limité à 4 Personnes*
*dépassement possible en cas de fortes demandes

Si vous êtes en situation de handicap, veuillez contacter le référent handicap, afin de vérifier les possibilités de mise en oeuvre de l'action de formation, à l'adresse suivante : instn-handicap@cea.fr

Du 30 septembre 2025
Au 02 octobre 2025
INSTN Saclay 1 780,00€ HT S'INSCRIRE

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