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FORMATION XRR (X-Ray- Reflectivity)

Caractérisation des matériaux

Matériaux

Caractérisation

Nouvelle formation !
© L. Godart / CEA

En bref

La caractérisation par réflectométrie de rayons X répond au besoin d'analyser les propriétés optiques et physiques de surfaces et de couches minces. Elle est essentielle dans des domaines variés tels que la microélectronique, la photovoltaïque, l’optique ou encore les nanotechnologies.

A qui s’adresse cette formation ?

Chercheurs, ingénieurs, doctorants et techniciens travaillant dans le domaine des surfaces et des couches minces (< 0.5 mm).

Compétences visées

Découvrir les principes théoriques de la réflectivité des rayons X
Apprendre à mesurer une courbe de réflectivité des rayons X sur film(s) mince(s)
Apprendre à traiter et interpréter les données expérimentales
Mettre en œuvre cette technique sur plusieurs cas d’études spécifiques à la microélectronique
Appréhender les opportunités et limitations offertes par cette technique d’analyse de surface

 

Présentation d’un équipement de Réflectivité des Rayons X (XRR) sur la Plateforme de Nano-Caractérisation du CEA-Leti.
Mise en pratique sur des cas d’études.

Rappels généraux sur l’interaction rayons X – matière

Présentation des différents types d'appareillage pour de la XRR

Fondamentaux de la XRR

Présentation de cas d'études

Niveau de formation minimum, technicien supérieur en physique, chimie, sciences de l’ingénieur ou sciences des matériaux 

Méthodes et outils pédagogiques

Contact(s)

INSTN Grenoble

Contact administratif :

Anne-Sophie BERTIN
anne-sophie.bertin@cea.fr
04 38 78 48 65

Contact pédagogique :

Jean-Charles SOURIAU
jean-charles.souriau@cea.fr
04 38 78 98 13

Sessions de formation

Groupe limité à 9 Personnes

Si vous êtes en situation de handicap, veuillez contacter le référent handicap, afin de vérifier les possibilités de mise en oeuvre de l'action de formation, à l'adresse suivante : instn-handicap@cea.fr

Du 11 mars 2025
Au 12 mars 2025
INSTN Grenoble 1 000,00€ HT S'INSCRIRE

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